您的位置:首页>新闻动态
学术报告:全反射X荧光(TXRF)分析技术现状与应用

  报告题目:全反射X荧光(TXRF)分析技术现状与应用     

  报告人:田宇紘教授  烟台大学 

  时间: 20131014日(星期一) 

  上午1030  

  地点: 近物所5号楼911会议室     

  欢迎感兴趣的同事们踊跃参加!      

    

  学术委员会 

  青年促进会近物所小组 

  原子分子动力学组 

  科技处 

  人事教育与国际合作处 

  20131011 

 

  田宇紘教授简介     

  学习工作经历: 

  南开大学(1961-1965 

  兰州大学(1965-1966)实验核物理专业学习。 

  中科院近代物理研究所(二十四年); 

  德国国家GKSS研究中心(二年); 

  烟台大学(十年)     

  从事核物理方面工作(重离子熔合裂变;弹性散射和非弹性散射;快中子反应截面测量和应用;低温和真空技术在重离子加速器中的应用;X射线仪器设计制造与应用,特别是TXRF设计与应用)。 

  北京普析通用仪器公司(技术顾问二年)从事射线研究和X-射线仪器研发.研制了全反射X荧光分析仪、小型全反射X荧光分析仪、黄金测试仪、光伏硅杂质元素分析仪等并得到用户应用.95年研制成功国内第一台高灵敏度全反射X荧光分析仪,并通过了省部级鉴定。 

  为金川有色金属公司,中科光伏公司等单位合作提供技术和仪器,解决了其在生产过程质量控制;高灵敏度测试;微量分析等方面的问题。 

  20多年的X荧光分析工作基础上,针对目前国内外的技术发展和应用领域的热点及难点,完成了下述以高灵敏度,小型化的X荧光分析技术为基础的几个领域的工作。 

  提供技术并作为特聘专家完成了深圳华测公司(上市公司)的科技部重大仪器专项2012年的广东省科技厅的申报和答辩工作;通过了专家组的论证并给与好评 

关闭窗口
本网站访问量:: 陇ICP备05000649号 版权所有©中国科学院近代物理研究所 中国 兰州
甘肃省兰州市南昌路509号 电话:0931-4969666 Email:atg@impcas.ac.cn邮编:730000